| 发明名称 |
Semiconductor integrated circuit device with test signal repeater circuit and related design automation apparatus, method and program |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP1460569(A1) |
申请公布日期 |
2004.09.22 |
| 申请号 |
EP20040004080 |
申请日期 |
2004.02.23 |
| 申请人 |
NEC ELECTRONICS CORPORATION |
发明人 |
KUGE, HIROYOSHI;OHARA, YOSHIHIRO |
| 分类号 |
G01R31/28;G01R31/3185;G06F17/50;H01L21/82;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):G06F17/50;G01R31/318 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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