发明名称 | 可显影之抗反射涂层的双重图形化方法 | ||
摘要 | 本发明系关于一种在基板上双重图形化薄膜之方法。此一方法包括在该基板上形成该薄膜以被图形化,形成一可显影的抗反射涂层(ARC, anti-reflective coating)于该薄膜上及形成一光阻层于该 ARC 层上。在此之后,依照第一影像图形将该光阻层及该 ARC 层影像化并加以显影,因此在该第一影像图形中形成该 ARC 层。该光阻被移除及另一光阻层形成于该 ARC 层上。在此之后,另一光阻层及该 ARC 层依照一第二影像图形被影像化及被显影,因此在该 ARC 层中形成该第二影像图形。移除另一光阻层而留下双重图形化之 ARC 层,以蚀刻下方薄膜。 | ||
申请公布号 | TW200816275 | 申请公布日期 | 2008.04.01 |
申请号 | TW096133828 | 申请日期 | 2007.09.11 |
申请人 | 东京威力科创股份有限公司 | 发明人 | 雪诺W 旦恩 |
分类号 | H01L21/027(2006.01) | 主分类号 | H01L21/027(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 周良谋;周良吉 | |
主权项 | |||
地址 | 日本 |