发明名称 可显影之抗反射涂层的双重图形化方法
摘要 本发明系关于一种在基板上双重图形化薄膜之方法。此一方法包括在该基板上形成该薄膜以被图形化,形成一可显影的抗反射涂层(ARC, anti-reflective coating)于该薄膜上及形成一光阻层于该 ARC 层上。在此之后,依照第一影像图形将该光阻层及该 ARC 层影像化并加以显影,因此在该第一影像图形中形成该 ARC 层。该光阻被移除及另一光阻层形成于该 ARC 层上。在此之后,另一光阻层及该 ARC 层依照一第二影像图形被影像化及被显影,因此在该 ARC 层中形成该第二影像图形。移除另一光阻层而留下双重图形化之 ARC 层,以蚀刻下方薄膜。
申请公布号 TW200816275 申请公布日期 2008.04.01
申请号 TW096133828 申请日期 2007.09.11
申请人 东京威力科创股份有限公司 发明人 雪诺W 旦恩
分类号 H01L21/027(2006.01) 主分类号 H01L21/027(2006.01)
代理机构 代理人 周良谋;周良吉
主权项
地址 日本