发明名称 Apparatus for Inspecting Lead Frame of LED
摘要 본 발명은 엘이디 리드프레임 검사 장치에 관한 것이고, 구체적으로 영상을 획득하여 리드프레임에 배치된 엘이디 칩의 불량 여부를 판단하여 해당 엘이디 칩에 마킹이 가능하도록 하는 엘이디 리드프레임 검사 장치에 관한 것이다. 검사 장치는 다수 개의 리드프레임이 수용이 된 매거진(M)의 이동을 위한 공급 가이드(111), 이동이 된 매거진(M)의 상하 이동을 위한 승강 유닛(112), 매거진(M)으로부터 각각의 리드프레임을 이동시키는 밀림 유닛(113) 및 밀림 유닛(113)에 의하여 이동되는 각각의 리드프레임이 적재되는 로더(118)로 이루어진 공급 모듈(110); 공급 모듈(110)로부터 이송이 된 각각의 리드프레임의 영상을 획득하기 위한 적어도 하나의 카메라를 가지는 영상 획득 모듈(120); 영상 획득 모듈(120)로부터 얻어진 검사 결과에 따라 상기 리더프레임에 배치된 특정 칩 패드에 마킹이 가능한 마킹 모듈(130); 및 마킹 모듈(130)로부터 이송된 상기 리더프레임을 검사 결과에 따라 분류하고 간지 유닛(145)으로부터 이송된 간지로 분리하여 배출 매거진에 정렬시키는 배출 모듈(140)을 포함하고, 상기 리더프레임은 캐리어(150)에 로딩이 되어 이송 컨베이어(160)를 따라 이송이 된다.
申请公布号 KR101637493(B1) 申请公布日期 2016.07.07
申请号 KR20130155209 申请日期 2013.12.13
申请人 (주)신안엔지니어링 发明人 장남규;김제성
分类号 G01J1/38;H01L33/62 主分类号 G01J1/38
代理机构 代理人
主权项
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