发明名称 Test method for semiconductor memory circuit
摘要
申请公布号 EP1293989(B1) 申请公布日期 2008.07.16
申请号 EP20020252816 申请日期 2002.04.22
申请人 FUJITSU LIMITED 发明人 YAMAZAKI, MASAFUMI;SUZUKI, TAKAAKI;NAKAMURA, TOSHIKAZU;ETO, SATOSHI;MIYO, TOSHIYA;SATO, AYAKO;YONEDA, TAKAYUKI;KAWAMURA, NORIKO
分类号 G11C29/36;G11C29/00;G11C29/48 主分类号 G11C29/36
代理机构 代理人
主权项
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