| 发明名称 | 半导体器件、检查半导体器件的方法和装置 | ||
| 摘要 | 公开了配备有反馈信号传输单元(210)的信号传输电路器件(200)，该反馈信号传输单元(210)将控制输出信号(Sout)作为反馈信号(Sf)反馈到输入侧电路(200A)。逻辑比较电路(212)通过在控制输入信号(Sin)与反馈信号(Sf)之间进行逻辑比较来检测在输入与输出之间的“失配”。当在输入与输出之间的状态是“失配”时，与控制输入信号(Sin)的电位(高电平或低电平)相对应，第一脉冲生成电路(202)或第二脉冲生成电路(204)输出第一校正信号(Sa1)或第二校正信号(Sa2)，并将控制输出信号(Sout)校正成与控制输入信号(Sin)的电位相同的电位(高电平或低电平)。借助于这样的配置，可以自动校正输入与输出之间的失配。 | ||
| 申请公布号 | CN105790744A | 申请公布日期 | 2016.07.20 |
| 申请号 | CN201610096548.X | 申请日期 | 2010.10.13 |
| 申请人 | 罗姆股份有限公司 | 发明人 | 柳岛大辉;石川俊行;滝原裕贵 |
| 分类号 | H03K17/61(2006.01)I;H03K17/691(2006.01)I | 主分类号 | H03K17/61(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 郑海涛 |
| 主权项 | 一种集成了线圈的半导体器件，其中第一电流供应焊盘和第一电压测量焊盘与所述线圈的一端连接，并且第二电流供应焊盘和第二电压测量焊盘与所述线圈的另一端连接。 | ||
| 地址 | 日本京都府 | ||