| 发明名称 |
Method for testing an integrated circuit and integrated circuit device with a test circuit |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP0687916(A3) |
申请公布日期 |
1997.01.15 |
| 申请号 |
EP19950201477 |
申请日期 |
1995.06.06 |
| 申请人 |
PHILIPS PATENTVERWALTUNG GMBH;PHILIPS ELECTRONICS N.V. |
发明人 |
ERNST, HOLGER |
| 分类号 |
G01R31/28;G01R31/3167;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/316 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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