Adapter for testing electric circuit boards

摘要

Die Erfindung betrifft einen Adapter (1) zum Prüfen von elektrischen Leiterplatten (2), mit einem Adapterkörper und einer Anzahl den Adapterkörper durchgreifenden Prüfnadeln (4), zumindest einer Verstelleinrichtung (15) zum Justieren der Prüfnadeln auf an der Leiterplatte vorgesehenen Prüfpunkten durch eine relative Verschiebung zwischen der Leiterplatte und den Prüfnadeln, wobei die Verstelleinrichtung eine Nadelführungsplatte (6) aufweist, in der die mit den Prüfpunkten zu kontaktierenden Enden der Prüfnadeln in Führungsbohrungen gelagert sind, die im Muster der zu prüfenden Prüfpunkte der Leiterplatte angeordnet sind. Die Verstelleinrichtung ist innerhalb des Adapterkörpers angeordnet ist. <IMAGE>