| 摘要 |
본 발명은 제품이 놓여진 상태에서 회동되어 제품과 전기적으로 접속되어 제품을 테스트할 때 제품과 접속되는 테스트 핀의 파손을 방지한 제품 테스트 소켓을 제공하며, 제품 테스트 소켓은 제품이 배치되는 베이스 플레이트; 회로 기판 및 상기 회로 기판에 접속되며 상기 제품과 전기적으로 연결되는 테스트 유닛을 갖는 플로팅 유닛; 상기 베이스 플레이트와 힌지 결합되며 상기 플로팅 유닛을 수납하는 수납부 및 상기 테스트 유닛을 노출하는 개구가 형성된 커버; 및 상기 플로팅 유닛 및 상기 커버의 사이에 배치되어 상기 플로팅 유닛을 상기 커버에 대하여 경사지게 배치하는 탄성 부재를 포함한다. |
