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发明名称
SEMICONDUCTOR TEST DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR USING IT
摘要
申请公布号
JPH11316259(A)
申请公布日期
1999.11.16
申请号
JP19980120821
申请日期
1998.04.30
申请人
TOSHIBA CORP
发明人
ODASHIRO YOSHIAKI
分类号
G01R31/28;G11C29/56;(IPC1-7):G01R31/28
主分类号
G01R31/28
代理机构
代理人
主权项
地址
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