| 发明名称 | 个性化值快速写入方法以及集成电路测试方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种个性化值快速写入方法以及集成电路测试方法。本发明的个性化值快速写入方法包括：第一步骤：获得各个被测试芯片上的一个个性化值组；第二步骤：对所述个性化值组进行分析，确定所述个性化值组中所包含的不同个性化值在被测试芯片上的分布；第三步骤：针对所述个性化值组中所包含的每个不同个性化值，基于确定的所述分布来生成一个激励，并且将生成的激励写入相应的被测试芯片。 | ||
| 申请公布号 | CN105807211A | 申请公布日期 | 2016.07.27 |
| 申请号 | CN201610307817.2 | 申请日期 | 2016.05.11 |
| 申请人 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | 发明人 | 辛吉升 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人 | 屈蘅 |
| 主权项 | 一种个性化值快速写入方法，其特征在于包括：第一步骤：获得各个被测试芯片上的一个个性化值组；第二步骤：对所述个性化值组进行分析，确定所述个性化值组中所包含的不同个性化值在被测试芯片上的分布；第三步骤：针对所述个性化值组中所包含的每个不同个性化值，基于确定的所述分布来生成一个激励，并且将生成的激励写入相应的被测试芯片。 | ||
| 地址 | 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号 | ||