发明名称 一种光学系统像差补偿装置与方法
摘要 本发明提供一种光学系统像差补偿装置与方法,光源发出的光线均匀照明在投影物镜物面上,散射板和针孔安装在掩模台上,针孔位于投影物镜的物面,波像差传感器位于投影物镜像面,安装在硅片台上,同时投影物镜内部氮气进行分段密封,在每个密封段上安装有进气口流量控制器、出气口流量控制器、高精度气压计。本发明使用投影物镜内部分段控制的氮气气压作为补偿变量,当物镜像差发生变化时,采用算法计算各段气压的调整量,并通过计算机调节氮气流量,精确控制各密封段内的气压实现了投影物镜像差的动态补偿。
申请公布号 CN104181780B 申请公布日期 2016.06.22
申请号 CN201410473404.2 申请日期 2014.09.16
申请人 中国科学院光电技术研究所 发明人 刘志祥;邢延文;吕保斌;徐富超
分类号 G03F7/20(2006.01)I 主分类号 G03F7/20(2006.01)I
代理机构 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人 杨学明;顾炜
主权项 一种光学系统像差补偿装置,其特征在于:从光线入射方向依次包括光源(101)、照明系统(102)、二次光源模块(103)、投影物镜(104)、波像差测量模块(105)、计算机(106);其中二次光源模块(103)包括散射板(201)、掩模板(202)和掩模台(203);其中投影物镜(104)它包括第一段光组(211)、第二段光组(212)、第三段光组(213),各光组进行分段密封,同时在投影物镜上还安装有第一段进气口流量控制器(221)、第一段出气口流量控制器(222)、第二段进气口流量控制器(223)、第二段出气口流量控制器(224)、第三段进气口流量控制器(225)、第三段出气口流量控制器(226),第一段气压计(231)、第二段气压计(232)、第三段气压计(233);其中波像差测量模块(105)包括硅片台(241)、波像差传感器(242);光源(101)发出的激光通过传输光路导入照明系统(102),经照明系统(102)的光路折转、扩束和光学变换后,在投影物镜(104)的物面即掩模面上形成均匀照明光;二次光源模块(103)安装在投影物镜(104)的物面一侧,经过二次光源模块(103)出射的测试光通过被测投影物镜(104)后,测试光的波前会携带着投影物镜(104)的波像差信息;投影物镜(104)的第一段光组(211)上头部和尾部分别安装有第一段进气口流量控制器(221)、第一段出气口流量控制器(222),控制第一段光组(211)中氮气的流速和气压,第一段光组(211)还安装有第一段气压计(231),用于精确测量第一段光组(211)内部的氮气气压,第二段光组(212)上头部和尾部分别安装有第二段进气口流量控制器(223)、第二段出气口流量控制器(224),控制第二段光组(212)中氮气的流速和气压,第二段光组(212)还安装有第二段气压计(232),用于精确测量第二段光组(212)内部的氮气气压,第三段光组(213)上头部和尾部分别安装有第三段进气口流量控制器(225)、第三段出气口流量控制器(226),控制第三段光组(213)中氮气的流速和气压,第三段光组(213)还安装有第三段气压计(233),用于精确测量第三段光组(213)内部的氮气气压;波像差测量模块(105)位于投影物镜(104)像面一侧,上面为硅片台(241),波像差传感器(242)安装在硅片台(241)上,用于对被测物镜波像差进行动态测量,移动硅片台(241)进行视场选择;计算机(106)用于测量过程中控制,测量数据存储,计算各段气压补偿量该像差补偿装置的补偿机理在于分段调节氮气气压来间接改变各密封段的氮气折射率,根据不同像差对各段氮气气压的灵敏度特性,通过阻尼最小二乘法计算出各段氮气气压的调整量,实现对整个光学系统进行像差动态补偿。
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