发明名称 Herstellungsverfahren zur Bildung eines Transistors mit versenktem Kanal, Verfahren zur Bildung einer entsprechenden integrierten Halbleiterspeichervorrichtung und entsprechende selbstjustierte Maskenanordnung
摘要 Die vorliegende Erfindung stellt ein Verfahren zum Bilden eines Transistors bereit, umfassend die Schritte: Bilden einer Vielzahl von Reihen aktivierter Gebiete auf einem Halbleitersubstrat mit einer Oberfläche, wobei die Reihen unterteilt sind durch Aufteilungsstrukturen, welche eine von der Substrat-Oberfläche unterschiedliche Oberflächenhöhe aufweisen; Bilden einer ersten und einer zweiten Ausdehnung, angeordnet oberhalb der aktiven Gebiete und benachbart zu den Aufteilungsstrukturen; Bilden von Vorrichtungen mit versenktem Kanal in den Aktivgebiet-Segmenten in dem verbleibenden Bereich des Aktivgebiet-Segments zwischen den Ausdehnungen.
申请公布号 DE102007027160(A1) 申请公布日期 2008.12.24
申请号 DE200710027160 申请日期 2007.06.13
申请人 QIMONDA AG 发明人 HARTWICH, JESSICA;GRAHAM, ANDREW;SCHOLZ, ARND;WANG, YIMIN;SLESAZECK, STEFAN;HEINECK, LARS;HOFMANN, FRANZ
分类号 H01L21/8242;H01L21/308;H01L21/335 主分类号 H01L21/8242
代理机构 代理人
主权项
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