发明名称 |
Herstellungsverfahren zur Bildung eines Transistors mit versenktem Kanal, Verfahren zur Bildung einer entsprechenden integrierten Halbleiterspeichervorrichtung und entsprechende selbstjustierte Maskenanordnung |
摘要 |
Die vorliegende Erfindung stellt ein Verfahren zum Bilden eines Transistors bereit, umfassend die Schritte: Bilden einer Vielzahl von Reihen aktivierter Gebiete auf einem Halbleitersubstrat mit einer Oberfläche, wobei die Reihen unterteilt sind durch Aufteilungsstrukturen, welche eine von der Substrat-Oberfläche unterschiedliche Oberflächenhöhe aufweisen; Bilden einer ersten und einer zweiten Ausdehnung, angeordnet oberhalb der aktiven Gebiete und benachbart zu den Aufteilungsstrukturen; Bilden von Vorrichtungen mit versenktem Kanal in den Aktivgebiet-Segmenten in dem verbleibenden Bereich des Aktivgebiet-Segments zwischen den Ausdehnungen.
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申请公布号 |
DE102007027160(A1) |
申请公布日期 |
2008.12.24 |
申请号 |
DE200710027160 |
申请日期 |
2007.06.13 |
申请人 |
QIMONDA AG |
发明人 |
HARTWICH, JESSICA;GRAHAM, ANDREW;SCHOLZ, ARND;WANG, YIMIN;SLESAZECK, STEFAN;HEINECK, LARS;HOFMANN, FRANZ |
分类号 |
H01L21/8242;H01L21/308;H01L21/335 |
主分类号 |
H01L21/8242 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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