发明名称 |
半導体基板、半導体基板の製造方法及び複合基板の製造方法 |
摘要 |
半導体結晶層形成基板の上に、第1半導体結晶層、第2半導体結晶層および第3半導体結晶層をこの順に有し、第1半導体結晶層の第1エッチング剤によるエッチング速度および第3半導体結晶層の第1エッチング剤によるエッチング速度の何れもが、第2半導体結晶層の第1エッチング剤によるエッチング速度よりも大きく、第1半導体結晶層の第2エッチング剤によるエッチング速度および第3半導体結晶層の第2エッチング剤によるエッチング速度の何れもが、第2半導体結晶層の第2エッチング剤によるエッチング速度よりも小さい半導体基板を提供する。 |
申请公布号 |
JPWO2014017063(A1) |
申请公布日期 |
2016.07.07 |
申请号 |
JP20140526754 |
申请日期 |
2013.07.22 |
申请人 |
住友化学株式会社 |
发明人 |
青木 健志;市川 磨;山本 武継 |
分类号 |
H01L21/20;C30B29/40;C30B33/10;H01L21/306 |
主分类号 |
H01L21/20 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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