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Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung einer Lebenserwartungs-Information eines LED-Moduls mit einer Vielzahl von LEDs, wobei das Verfahren die Schritte umfasst: Erfassen von Vorwärtsspannungen des LED-Moduls zu Zeitpunkten, die weniger als 100 ms auseinander liegen, Vergleichen einer aktuell erfassten Vorwärtsspannung mit einer oder mehreren früher erfassten Vorwärtsspannungen, um einen Spannungssprung zu detektieren, der eine Mindestsprungspannung innerhalb einer vorgegebenen Sprungdauer erreicht, wobei die Mindestsprungspannung zumindest 60 mV beträgt und die vorgegebene Sprungdauer weniger als 100 ms lang ist und Bestimmen einer Lebenserwartungs-Information basierend auf einem oder mehreren detektierten Spannungssprüngen. |
