发明名称 测试系统、附加装置以及测试方法
摘要 本发明能够以良好的效率进行事件库的测试。本发明提供一种测试系统,用来对被测试装置进行测试,此测试系统具备:测试装置,利用事件库对被测试装置进行测试;以及附加装置,当装置输出信号变化的间隔小于测试装置可处理的间隔时,附加在被测试装置与测试装置之间;并且,附加装置具备:信号输入部,输入被测试装置对应于装置输入信号而输出的装置输出信号;变化检测部,检测所输入的装置输出信号是否有变化;变化定时检测部,检测装置输出信号的变化定时;存储部,对应于装置输出信号变化的情况,将装置输出信号的变化定时及变化后的信号值作为输出事件依次进行存储;以及读出部,从存储部中依次读出输出事件,并输入到测试装置。
申请公布号 CN101038326A 申请公布日期 2007.09.19
申请号 CN200710079962.0 申请日期 2007.02.27
申请人 爱德万测试株式会社 发明人 渡辺雄也;菅森茂
分类号 G01R31/3181(2006.01);G01R31/3183(2006.01) 主分类号 G01R31/3181(2006.01)
代理机构 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 代理人 寿宁;张华辉
主权项 1、一种测试系统,用来对被测试装置进行测试,其特征在于包括:事件数据获取部,获取事件数据,该事件数据是对所述被测试装置进行逻辑模拟而获得的,且含有多个由输入到所述被测试装置的装置输入信号及所述被测试装置所输出的装置输出信号各自的变化定时、以及变化后的信号值所构成的组;信号生成部,根据所述事件数据中所包含的、含有所述装置输入信号的变化定时及变化后的信号值的输入事件,生成提供给所述被测试装置的所述装置输入信号;信号提供部,将所生成的所述装置输入信号提供给所述被测试装置;信号输入部,输入所述被测试装置对应于所述装置输入信号而输出的装置输出信号;变化检测部,检测所输入的所述装置输出信号是否有变化;变化定时检测部,检测所述装置输出信号的变化定时;存储部,对应于所述装置输出信号变化的情况,将所述装置输出信号的变化定时及变化后的信号值作为输出事件依次进行存储;读出部,依次从所述存储部中读出所述输出事件;以及良否判定部,将对所述被测试装置进行逻辑模拟而获得的、包含所述被测试装置应输出的所述装置输出信号的变化定时及变化后的信号值的事件作为期待值事件,并与所读出的所述输出事件进行对照,以此来判定所述装置输出信号是否与期待值一致。
地址 日本东京练马区旭町1丁目32番1号