发明名称 -INTEGRATED CIRCUIT DYNAMIC DE-AGING
摘要 집적 회로는 에이징 센서로 에이징을 측정함으로써 회로 에이징을 동적으로 보상한다. 에이징 센서는 에이징 및 언-에이징 컨디션들 둘 다에서 회로 속도들을 측정하기 위해 동일한 회로를 이용한다. 예시적인 에이징 센서는 2개의 지연 라인들을 포함한다. 지연 라인들은 정적 에이징 상태에 있도록 제어되거나, 또는 지연 라인들은 주파수가 에이징에 의해 느려지는 에이징된 상태 또는 주파수가 에이징에 의해 느려지지 않는 비-에이징된 상태에서 동작할 수 있는 링 오실레이터를 형성하도록 커플링된다. 집적 회로는 동적 전압 및 주파수 스케일링을 위해 에이징 측정들을 이용한다. 동적 전압 및 주파수 스케일링은 에이징 측정들에 기초하여 주기적으로 업데이트되는 동작 주파수 및 대응하는 전압의 테이블을 이용한다. 집적 회로는 테이블을 업데이트하도록 에이징 측정들과 회로 성능 간의 관계에 관한 정보를 이용한다.
申请公布号 KR20160140667(A) 申请公布日期 2016.12.07
申请号 KR20167026935 申请日期 2015.03.04
申请人 퀄컴 인코포레이티드 发明人 리우, 조나단;이브라히모빅, 자스민 스마일라;디펜더퍼, 잔 크리스찬;아우욘, 카를로스
分类号 H03K3/012;G01R31/28;G01R31/317;G05B11/01;H03K3/03;H03K5/00;H03K5/01;H03K19/003 主分类号 H03K3/012
代理机构 代理人
主权项
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