发明名称 Method for measuring and locating the passive intermodulation of a device being tested
摘要 Un procédé de mesure de l'intermodulation passive d'un dispositif en test comprend une mesure réalisée en mode transmission, un signal d'entrée comprenant au moins deux composantes de fréquences distinctes étant envoyé au dispositif en test par l'intermédiaire d'une sonde placée dans des conditions de champ proche. De préférence le procédé comprend les étapes suivantes : - un dispositif en test et une sonde sont disposées face à face dans des conditions de champ proche, - un signal d'entrée comprenant au moins deux composantes de fréquences distinctes est introduit dans la sonde, - Le signal d'entrée est envoyé par la sonde au dispositif en test, - le signal d'entrée transmis et les produits d'intermodulation générés par le dispositif en test sont recueillis à l'entrée du dispositif en test. Le système pour la mise en oeuvre de ce procédé comprend un dispositif en test, une sonde apte à envoyer un signal d'entrée comprenant au moins deux composantes de fréquences distinctes en direction du dispositif en test, et un analyseur de spectre pour recueillir le signal d'entrée transmis et les signaux d'intermodulation générés par le dispositif en test en vue de leur mesure.
申请公布号 EP3040727(A1) 申请公布日期 2016.07.06
申请号 EP20140307203 申请日期 2014.12.29
申请人 ALCATEL- LUCENT SHANGHAI BELL CO., LTD 发明人 HAREL, JEAN-PIERRE
分类号 G01R23/20;H04B17/00 主分类号 G01R23/20
代理机构 代理人
主权项
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