| 发明名称 | Optical measuring thedolite using light wave | ||
| 摘要 | |||
| 申请公布号 | USD766753(S1) | 申请公布日期 | 2016.09.20 |
| 申请号 | US201529529894F | 申请日期 | 2015.06.11 |
| 申请人 | KABUSHIKI KAISHA TOPCON | 发明人 | Ishii Mitsuo;Aoki Takeo |
| 分类号 | 10-04 | 主分类号 | 10-04 |
| 代理机构 | Oliff PLC | 代理人 | Oliff PLC |
| 主权项 | The ornamental design for an optical measuring theodolite using light wave, as shown and described. | ||
| 地址 | Tokyo JP | ||