| 摘要 |
aspectos de identificação sobre uma superfície de um objeto usando análise de pequenas ondulações. métodos e aparelho para inspecionar uma superfície de um objeto. os dados a partir da medição da superfície do objeto são obtidos para formar dados de superfície para o objeto. uma faixa de frequências para os aspectos sobre o objeto é selecionada baseada em uma faixa de distâncias entre os picos adjacentes para os aspectos. os aspectos são formados por uma ferramenta movendo-se ao longo de um número de vias. os dados de superfície desejados para os aspectos são obtidos a partir de dados de superfície usando a faixa de frequências selecionada. uma determinação é feita como para se os dados de superfície desejados para os aspectos encontrem uma política especificando uma superfície desejada para o objeto. em resposta a uma ausência de uma determinação de que os dados de superfície desejados para os aspectos encontrem a política, o objeto é retrabalhado. |
