发明名称 Haltbare Metallfilmabscheidung zur Maskenreparatur
摘要 Es werden Verfahren und Werkzeuge zum Reparieren einer Halbleitermaske bereitgestellt. Das Verfahren umfasst die Schritte des Positionierens der Halbleitermaske in einer Reparaturkammer, die ein Reparaturwerkzeug umfasst, des Zuführens eines ersten Gases und eines zweiten Gases in die Reparaturkammer. Das erste Gas umfasst ein Reparaturmaterial zum Reparieren eines Defekts auf der Maske, und das zweite Gas umfasst ein Polargas und trägt zur Abscheidung des Reparaturmaterials auf der Halbleitermaske bei. Das Verfahren umfasst ferner die Schritte des Aktivierens des Reparaturwerkzeugs, so dass das Reparaturwerkzeug mit den ersten und zweiten Gasen interagiert, um das Reparaturmaterial an der Stelle des Defekts abzuscheiden, um die Halbleitermaske zu reparieren, und des Entnehmens der reparierten Halbleitermaske aus der Reparaturkammer. Eine Abmessung des abgeschiedenen Reparaturmaterials beträgt weniger als ungefähr 32 Nanometer.
申请公布号 DE102015103260(A1) 申请公布日期 2016.08.18
申请号 DE201510103260 申请日期 2015.03.06
申请人 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. 发明人 Yuan-Chih, Chu;Huang, Yen-Kai
分类号 H01L21/033 主分类号 H01L21/033
代理机构 代理人
主权项
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