发明名称 |
一种任意倍升采样超声相控阵信号分辨力提高方法 |
摘要 |
本发明公开了一种任意倍升采样超声相控阵信号分辨力提高方法,包括:A对不同频率探头回波信号按比例倍数γ升采样;B对升采样倍数γ进行小数n<sub>F</sub>与整数I撤分,即γ=n<sub>F</sub>·I,实现多级升采样;C分别实现小数n<sub>F</sub>和整数I倍内插,所述小数n<sub>F</sub>倍内插通过多项式进行插值,所述整数I倍内插通过多相FIR内插滤波技术实现。本发明在于超声相控阵仪器信号软件升采样算法的可实施性、通用性,减轻单一、单次升采样算法对处理器性能过渡依赖,通过多样性插值算法、多级插值级连与并行数据处理模式避免其缺点,况且实现的是任意倍升采样,保障数据完整性,提高数字分辨力,进而提高信噪比。 |
申请公布号 |
CN106249215A |
申请公布日期 |
2016.12.21 |
申请号 |
CN201610584559.2 |
申请日期 |
2016.07.22 |
申请人 |
华南理工大学 |
发明人 |
刘桂雄;唐文明 |
分类号 |
G01S7/41(2006.01)I |
主分类号 |
G01S7/41(2006.01)I |
代理机构 |
北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 |
代理人 |
刘黎明 |
主权项 |
一种任意倍升采样超声相控阵信号分辨力提高方法,其特征在于,所述方法包括:A对不同频率探头回波信号按比例倍数γ升采样;B对升采样倍数γ进行小数n<sub>F</sub>与整数I撤分,即γ=n<sub>F</sub>·I,实现多级升采样;C分别实现小数n<sub>F</sub>和整数I倍内插,所述小数n<sub>F</sub>倍内插通过多项式进行插值,所述整数I倍内插通过多相FIR内插滤波技术实现。 |
地址 |
510640 广东省广州市天河区五山路华南理工大学 |