| 发明名称 | 测试装置及电子器件 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种测试装置，是测试具有外部接口电路的被测试器件的测试装置，所述外部接口电路在该器件内部的内部电路和该器件外部之间进行信号传输，所述测试装置包括：接口控制部，使在所述外部接口电路中折回输出所述测试图形；接口判断部，根据所述外部接口电路折回输出的所述测试图形，判定所述外部接口电路的好坏。 | ||
| 申请公布号 | CN101646954A | 申请公布日期 | 2010.02.10 |
| 申请号 | CN200880010198.4 | 申请日期 | 2008.03.21 |
| 申请人 | 爱德万测试株式会社 | 发明人 | 渡边大辅;冈安俊幸 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I;H01L21/822(2006.01)I;H01L27/04(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京英特普罗知识产权代理有限公司 | 代理人 | 齐永红 |
| 主权项 | 1、一种测试装置，是测试具有外部接口电路的被测试器件的测试装置，所述外部接口电路在该器件内部的内部电路和该器件外部之间进行信号传输，所述测试装置包括：图形发生部，向所述外部接口电路输入用于测试所述外部接口电路的测试图形；接口控制部，使在所述外部接口电路中折回输出所述测试图形；接口判断部，根据所述外部接口电路折回输出的所述测试图形，判定所述外部接口电路的好坏。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||