发明名称 | 光学记录/再现方法和光学记录介质 | ||
摘要 | 一种光记录/再现方法,可以在具有波长选择在780nm±10nm范围内的记录和再现光、以及物镜的数值孔径NA选择在0.45±0.01范围内的光学系统中使用,其中记录和再现具有不同记录容量的第一和第二光记录介质。通过利用具有至少1.5μm直到1.7μm的轨道间距Tp1和至少70nm直到90nm的凹槽深度d1的基底来形成所述第一光记录介质(10),通过利用具有至少1.2μm直到1.3μm的轨道间距Tp2和至少150nm直到180nm的凹槽深度d2的基底(11)来构成所述第二光记录介质(20)。这样,第二光记录介质能与现有光盘(第一光记录介质)兼容,并以高记录密度记录运动图像。 | ||
申请公布号 | CN1643589A | 申请公布日期 | 2005.07.20 |
申请号 | CN03806230.5 | 申请日期 | 2003.02.06 |
申请人 | 索尼株式会社 | 发明人 | 官田一智;太田辉之;渡辺诚;福岛义仁 |
分类号 | G11B11/105;G11B7/24 | 主分类号 | G11B11/105 |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 邸万奎;黄小临 |
主权项 | 1.一种光记录和再现方法,用于通过采用其中具有波长选择在780nm±10nm范围内的记录和再现光、以及数值孔径NA选择在0.45±0.01范围内的物镜的光学系统,来记录和再现光记录介质,该光记录和再现方法的特征在于,记录和再现具有不同记录容量的第一和第二光记录介质,通过利用具有在1.5μm到1.7μm的范围内选择的轨道间距和在70nm到90nm的范围内选择的凹槽深度的基底来构造所述第一光记录个质,通过利用具有在1.2μm到1.3μm的范围内选择的轨道间距和在150nm到180nm的范围内选择的凹槽深度的基底来构造所述第二光记录介质。 | ||
地址 | 日本东京都 |