发明名称 |
测量实际存取时间的PSRAM自我更新电路及其操作方法 |
摘要 |
本发明提供一种自我更新电路,其系包括一个更新控制单元及一个内部更新电路。其中,更新控制单元系用来当模式设定暂存器(MRS)命令并未启动时,根据更新周期脉冲产生更新控制讯号,用来当该MRS命令并未启动时,根据自我更新入口禁止讯号中断更新控制讯号的输出,以及用来当该MRS命令启动时,不管该更新周期脉冲为何而产生更新命令。MRS命令系藉由组合至少一个位址讯号及至少一个控制讯号而产生。内部更新电路系根据更新命令执行更新动作。藉此可精确地测量存取时间并且减少测试时间。 |
申请公布号 |
TWI320184 |
申请公布日期 |
2010.02.01 |
申请号 |
TW094138533 |
申请日期 |
2005.11.03 |
申请人 |
三星电子股份有限公司 |
发明人 |
金洙荣;李炫锡 |
分类号 |
G11C5/00 |
主分类号 |
G11C5/00 |
代理机构 |
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代理人 |
詹铭文;萧锡清 |
主权项 |
一种自我更新电路,包括:一更新控制单元,其系用来当一模式设定暂存器(MRS)命令并未启动时,根据一更新周期脉冲产生一更新控制讯号,及用来当该MRS命令并未启动时,根据一自我更新入口禁止讯号中断该更新控制讯号的一输出,以及用来当该MRS命令启动时,不管该更新周期脉冲为何而产生一更新命令,且该MRS命令系藉由组合至少一位址讯号及至少一控制讯号而产生;以及一内部更新电路,用来根据该更新命令执行一更新动作。 |
地址 |
南韩 |