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发明名称 Verfahren zur Prüfung einer integrierten Schaltung und Schaltungsanordnung
摘要
申请公布号 DE10064478(B4) 申请公布日期 2005.02.24
申请号 DE20001064478 申请日期 2000.12.22
申请人 ATMEL GERMANY GMBH;VISHAY SEMICONDUCTOR GMBH 发明人 EICHIN, MATTHIAS;KURZ, ALEXANDER
分类号 G01R31/28;G01R31/3185;G11C29/46;G11C29/48;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
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