| 发明名称 | 粒状氧化铝、生产粒状氧化铝的方法和含有粒状氧化铝的组合物 | ||
| 摘要 | 本发明涉及具有以下特征的粒状氧化铝：与50％累积体积平均粒径相对应的平均粒径(D50)在3-6μm范围内，D90与D10之比等于或小于2.5，含有0.5质量％或更少的粒径为至少12μm的颗粒、0.01质量％或更少的粒径为20μm或更大的颗粒和0.2质量％或更少的粒径为1.5μm或更小的颗粒，并含有α相作为主要相。另外，所述粒状氧化铝的较长直径(DL)与较短直径(DS)之比为2或更小且D50与平均初级粒径(DP)之比为3或更小。具有这些特性的粒状氧化铝具有窄粒径分布，引起的磨耗很小并显示优异的流动特性。本发明还涉及生产所述粒状氧化铝的方法，含有所述粒状氧化铝的组合物和包括这种组合物的电子元件或半导体器件。 | ||
| 申请公布号 | CN100343170C | 申请公布日期 | 2007.10.17 |
| 申请号 | CN02827550.0 | 申请日期 | 2002.12.27 |
| 申请人 | 昭和电工株式会社 | 发明人 | 上村胜彦;涩沢奖 |
| 分类号 | C01F7/02(2006.01);C01F7/44(2006.01);C08K3/22(2006.01);H01L23/373(2006.01) | 主分类号 | C01F7/02(2006.01) |
| 代理机构 | 北京市中咨律师事务所 | 代理人 | 林柏楠;刘金辉 |
| 主权项 | 1.一种具有以下特征的粒状氧化铝：与50％体积累积平均粒径相对应的平均粒径D50在3-6μm范围内，D90与D10之比等于或小于2.5，含有0.5质量％或更少的粒径为至少12μm的颗粒、0.01质量％或更少的粒径为20μm或更大的颗粒和0.2质量％或更少的粒径为1.5μm或更小的颗粒，并含有α相作为主要相。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||