| 发明名称 | 一种准确测定双面受光叶片光强的方法及装置 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种准确测定双面受光叶片光强的方法及装置，该方法包括S1测量第一测定光源至叶片一面之间的入射光的强度；S2测量第一测定光源透过叶片一面后出射光的强度；S3测量第二测定光源至叶片另一面之间的入射光的强度；S4测量第二测定光源透过叶片背面另一面后出射光的强度；S5根据S1‑S4计算获得所述叶片接收到的实际光照强度。本发明不仅能够满足对叶片双面测定，还能够准确反映叶片的实际受光强度，进而提高测量的精准度。 | ||
| 申请公布号 | CN106226465A | 申请公布日期 | 2016.12.14 |
| 申请号 | CN201610519685.X | 申请日期 | 2016.07.05 |
| 申请人 | 上海泽泉科技股份有限公司;上海乾菲诺农业科技有限公司 | 发明人 | 郭峰 |
| 分类号 | G01N33/00(2006.01)I | 主分类号 | G01N33/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海硕力知识产权代理事务所 31251 | 代理人 | 郭桂峰 |
| 主权项 | 一种准确测定双面受光叶片光强的方法，其特征在于，包括：S1测量第一测定光源至叶片一面之间的入射光的强度；S2测量第一测定光源透过叶片一面后出射光的强度；S3测量第二测定光源至叶片另一面之间的入射光的强度；S4测量第二测定光源透过叶片另一面后出射光的强度；S5根据S1‑S4计算获得所述叶片接收到的实际光照强度。 | ||
| 地址 | 200062 上海市普陀区金沙江路1038号华大科技园2号楼8层 | ||