| 发明名称 |
SELF-TEST CIRCUIT OF COMPOSITE SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND SELF-TEST METHOD USING THE CIRCUIT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH11317096(A) |
申请公布日期 |
1999.11.16 |
| 申请号 |
JP19980289857 |
申请日期 |
1998.10.12 |
| 申请人 |
SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD |
发明人 |
PARK SANG-BONG |
| 分类号 |
G11C11/401;G01R31/28;G11C29/02;G11C29/12;G11C29/50;(IPC1-7):G11C29/00;G11C29/00 |
主分类号 |
G11C11/401 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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