发明名称 |
物镜及光拾取装置 |
摘要 |
本发明提供一种即使为高NA物镜,也能够良好地测定安装在光拾取装置时的倾斜度且能够高精度地装配光拾取装置的高NA物镜及具备该高NA物镜的光拾取装置。该物镜具有:形成于光源侧的第一光学面、以面向第一光学面且曲率半径大于第一光学面的方式形成的第二光学面、从光轴方向观察位于第二光学面外侧且与光轴大致垂直的平面即端面,像侧数值孔径(NA)为0.7以上、0.9以下,作为从光轴方向观察通过光轴及端面的直线,将端面范围内的直线的距离设为A(mm),从光轴至端面最外周部的直线的距离设为B(mm)时,满足以下式(1)即0.12<A/B<0.5 (1)。 |
申请公布号 |
CN103443857B |
申请公布日期 |
2016.07.06 |
申请号 |
CN201280008900.X |
申请日期 |
2012.02.10 |
申请人 |
柯尼卡美能达株式会社 |
发明人 |
水町靖;荻原贤治 |
分类号 |
G11B7/1374(2012.01)I;G11B7/1353(2012.01)I;G02B19/00(2006.01)I |
主分类号 |
G11B7/1374(2012.01)I |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 11105 |
代理人 |
张涛 |
主权项 |
一种物镜,其是用于光拾取装置的由树脂材料成型得到的单片物镜,所述光拾取装置具有射出第一波长λ1(390nm<λ1<420nm)的第一光束的第一光源、射出第二波长λ2(λ2>λ1)的第二光束的第二光源和物镜,使用所述第一光束对具有厚度为t1的保护基板的所述第一光盘进行信息的记录和/或再生,使用所述第二光束对具有厚度为t2(t1<t2)的保护基板的第二光盘进行信息的记录和/或再生,所述树脂材料对于405nm波长在25℃温度下的折射率为1.54~1.60的范围内,所述物镜具有:第一光学面,其形成于所述第一光源侧;第二光学面,其面向所述第一光学面而形成,且曲率半径大于所述第一光学面;端面,其是从光轴方向观察时位于所述第二光学面外侧且光轴与平面形成的角度在89°~91°,所述第一光学面至少具有中央区域、位于所述中央区域周围的中间区域,所述中央区域具有第一光程差赋予结构,所述中间区域具有第二光程差赋予结构,所述物镜,将通过所述中央区域的所述第一光束聚光到所述第一光盘的信息记录面上,从而使得能够在所述第一光盘的信息记录面上进行信息的记录和/或再生;将通过所述中央区域的所述第二光束聚光到所述第二光盘的信息记录面上,从而使得能够在所述第二光盘的信息记录面上进行信息的记录和/或再生,将通过所述中间区域的所述第一光束聚光到所述第一光盘的信息记录面上,从而使得能够在所述第一光盘的信息记录面上进行信息的记录和/或再生;将通过所述中间区域的所述第二光束聚光到所述第二光盘的信息记录面上,从而使得能够在所述第二光盘的信息记录面上进行信息的记录和/或再生,在进行第一光盘的信息的记录和/或再生时,所述物镜的像侧数值孔径(NA)为0.7以上、0.9以下,所述端面为镜面,就从光轴方向观察时通过光轴及所述端面的直线而言,将所述端面范围内的所述直线的距离设为A(mm),将从光轴到所述端面最外周部的所述直线的距离设为B(mm)时,满足下式,0.12<A/B<0.5 (1)。 |
地址 |
日本东京都 |