Verfahren und Rasterfluoreszenzlichtmikroskop zum mehrdimensional hochauflösenden Abbilden einer Struktur oder eines Wegs eines Partikels in einer Probe

摘要

Zum mehrdimensional hochauflösenden Abbilden einer mit Fluoreszenzmarkern markierten Struktur einer Probe werden die folgenden Schritte für eine Vielzahl von Messbereichen (18) in der Probe wiederholt: Der Messbereich (18) wird mit Fluoreszenzermöglichungslicht (3) beaufschlagt. Ein Teilbereich (20) des Messbereichs (18) wird mit Fluoreszenzverhinderungslicht (10) beaufschlagt, wobei der Teilbereich (20) ein Zentrum (22) des Messbereichs (18) auslässt, indem eine Intensitätsverteilung des Fluoreszenzverhinderungslichts (10) eine sich über das Zentrum (22) hinweg ersteckende linien- oder flächenförmige Nullstelle (21) aufweist. Eine minimale Erstreckung (23) der (21) Nullstelle durch das Zentrum (22) des Messbereichs (18) ist dabei um einen Faktor k > 2 kleiner als ein Durchmesser (19) des Messbereichs (18) in derselben Richtung. Aus dem Messbereich (18) von der Probe emittiertes Fluoreszenzlicht wird ohne räumliche Auflösung innerhalb des Messbereichs (18) für mehrere aufeinander folgende Winkelstellungen der Nullstelle (21) um das Zentrum (22) gemessen, wobei für jede der Winkelstellungen der Nullstelle (21) der Messbereich (18) mit dem Fluoreszenzermöglichungslicht (3) beaufschlagt wird. Eine Intensitätssumme, zu der zumindest ein Anteil des aus dem Messbereich (18) emittierten Fluoreszenzlichts über die mehreren Winkelstellungen hinweg aufsummiert wird, wird einem durch die Lage des Zentrums (22) in der Probe definierten Ort zugeordnet.