Verfahren zur temporären Arretierung eines Mikrostruktur- und/oder Rauheitsmessgeräts, Mikrostruktur- und/oder Rauheitsmessgerät zur Durchführung des Verfahrens sowie Anordnung eines Mikrostruktur- und/oder Rauheitsmessgeräts und eines Messobjekts

摘要

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur temporären Arretierung eines einen Messsensor enthaltenden Messgeräteteils eines Mikrostruktur- und/oder Rauheitsmessgeräts in einer von einer Bohrungswand (1) begrenzten Bohrung eines Messobjekts. Die Erfindung betrifft auch ein Mikrostruktur-und/oder Rauheitsmessgerät zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens. Die Erfindung betrifft auch eine Anordnung eines erfindungsgemäßen Mikrostruktur- und/oder Rauheitsmessgeräts und eines Messobjekts, das eine mit einer Bohrungswand (1) begrenzte Bohrung aufweist.