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发明名称
Method for determining interface properties of semiconductor materials by photoreflectance
摘要
申请公布号
US5255070(A)
申请公布日期
1993.10.19
申请号
US19890382190
申请日期
1989.07.20
申请人
POLLAK, FRED H.;SHEN, HONG-EN;LUCOVSKY, GERALD
发明人
POLLAK, FRED H.;SHEN, HONG-EN;LUCOVSKY, GERALD
分类号
H01L21/66;G01N21/17;G01N21/55;G01N21/63;G01N21/84;(IPC1-7):G01N21/25
主分类号
H01L21/66
代理机构
代理人
主权项
地址
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