发明名称 |
CIRCUITO INTEGRADO CON AUTOVERIFICACION DE MEMORIA. |
摘要 |
UNA SERIE DE MEMORIA INCLUIDA CON CIRCUITERIA LOGICA EN UN CIRCUITO INTEGRADO ES VERIFCADA POR UNA TECNIDCA QUE LEE Y ESCRIBE UNA SECUENCIA ESPECIFICADA DE BITS, DE TEST DENTRO DE UNA PALABRA DE MEMORIA DADA, ANTES DE PASAR A LA SIGUIENTE PALABRA. UN MODELO O PLANTILLA DE TARJETA DE CHEQUEO DE UNOS Y CEROS ES ESCRITA DENTRO DE LOCALIZACIONES FISICAS DE MEMORIA. ESO PROPORCIONA PARA EL PEOR DE LOS CASOS UN TEST MIENTRAS SE PERMITE FACIL IMPLANTACION DE LA CIRCUITERIA DEL TEST. RESULTADO DEL TEST DESDE UN CIRCUITO COMPARADOR PUEDE SER COMPRIMIDO PARA PROPORCIONAR UNAS POCAS SEÑALES DE ENSAYO, INDICANDO SI LA MEMORIA HA PASADO EL TEST, REQUIRIENDO UN NUMERO MINIMO DE TERMINALES PARA EL CHIP.
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申请公布号 |
ES2046987(T3) |
申请公布日期 |
1994.02.16 |
申请号 |
ES19870308454T |
申请日期 |
1987.09.24 |
申请人 |
AMERICAN TELEPHONE AND TELEGRAPH COMPANY |
发明人 |
AADSEN, DUANE RODNEY;JAIN, SUNIL KUMAR;STROUD, CHARLES EUGENE |
分类号 |
H01L27/10;G01R31/3183;G11C29/00;G11C29/10;G11C29/12;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
H01L27/10 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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