发明名称 |
一种文本检测的方法和装置 |
摘要 |
本发明提供了一种计算估计笔画宽度ESW的方法,包括以下步骤:根据二值化图像,获取笔画边缘信息;计算每个笔画边缘像素点在不少于四个取向上的笔画宽度,所述每个笔画边缘像素点在不少于四个取向上的笔画宽度是所述笔画边缘像素点到位于由所述笔画边缘像素点和所述取向决定的直线上的另一笔画边缘像素点的距离;将计算得到的每个笔画边缘像素点在不少于四个取向上的笔画宽度分别与经过该笔画边缘像素点并沿着该取向上的每个笔画内像素点相关联;以及针对每个笔画内像素点,选择与所述笔画内像素点相关联的多个笔画宽度的最小值作为所述笔画内像素点的估计笔画宽度ESW。本发明还提供了与该方法相对应的装置。 |
申请公布号 |
CN105718926A |
申请公布日期 |
2016.06.29 |
申请号 |
CN201410724574.3 |
申请日期 |
2014.12.03 |
申请人 |
夏普株式会社 |
发明人 |
江淑红;吴波 |
分类号 |
G06K9/20(2006.01)I;G06K9/34(2006.01)I |
主分类号 |
G06K9/20(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
王波波 |
主权项 |
一种计算估计笔画宽度ESW的方法,包括以下步骤:根据二值化图像,获取笔画边缘信息;计算每个笔画边缘像素点在不少于四个取向上的笔画宽度,所述每个笔画边缘像素点在不少于四个取向上的笔画宽度是所述笔画边缘像素点到位于由所述笔画边缘像素点和所述取向决定的直线上的另一笔画边缘像素点的距离;将计算得到的每个笔画边缘像素点在不少于四个取向上的笔画宽度分别与经过该笔画边缘像素点并沿着该取向上的每个笔画内像素点相关联;以及针对每个笔画内像素点,选择与所述笔画内像素点相关联的多个笔画宽度的最小值作为所述笔画内像素点的估计笔画宽度ESW。 |
地址 |
日本国大阪府大阪市阿倍野区长池町22番22号 |