| 发明名称 | 一种G.653光纤DWDM系统的传输性能测试方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种G.653光纤DWDM系统的传输性能测试方法，适用于G.653光纤DWDM系统，其特征在于，包括：步骤一，选择待测试的典型通道；步骤二，通过测试得到所述典型通道的附加色散与通道代价之间的关系曲线；及步骤三，通过分析所述关系曲线得到所述系统的传输性能测试结果。本发明方法和装置，与现有技术相比，由于采取了通过测试附加色散和通道代价的关系曲线的技术措施，达到了全面测试通道传输性能的效果，提高了G.653光纤DWDM系统的传输业务的可靠性。 | ||
| 申请公布号 | CN101162942A | 申请公布日期 | 2008.04.16 |
| 申请号 | CN200610113758.1 | 申请日期 | 2006.10.13 |
| 申请人 | 中兴通讯股份有限公司 | 发明人 | 沈百林;李红军;张乃罡;张红宇 |
| 分类号 | H04B10/08(2006.01);H04B10/18(2006.01);H04J14/02(2006.01) | 主分类号 | H04B10/08(2006.01) |
| 代理机构 | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 | 代理人 | 梁挥;徐金国 |
| 主权项 | 1.一种G.653光纤DWDM系统的传输性能测试方法，适用于G.653光纤DWDM系统，其特征在于，包括：步骤一，选择待测试的典型通道；步骤二，通过测试得到所述典型通道的附加色散与通道代价之间的关系曲线；及步骤三，通过分析所述关系曲线得到所述系统的传输性能测试结果。 | ||
| 地址 | 518057广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法律部 | ||