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Verfahren zum Charakterisieren eines Analog-Digital-Wandlers, wobei der Analog-Digital-Wandler (4) zum Wandeln eines Eingangssignals (uin) in ein digitales Ausgangssignal (out) eingerichtet ist, und das Verfahren folgende Schritte aufweist: – Anlegen eines Signals, das in einer ersten Phase (ta – tb) einen Verlauf einer steigenden Exponentialfunktion mit der eulerschen Zahl als Basis hat und in einer weiteren Phase (tc – td) einen Verlauf einer fallenden Exponentialfunktion mit der eulerschen Zahl als Basis hat, als Eingangssignal (uin) an den Analog-Digital-Wandler (4), – Integrieren des digitalen Ausgangssignals (out) während der ersten Phase (ta – tb) zu einer ersten Summe (Ssteig), – Integrieren des digitalen Ausgangssignals (out) während der weiteren Phase (tc – td) zu einer zweiten Summe (Sfall), – Berechnen aus der ersten Summe und der zweiten Summe zumindest einen der Parameter Verstärkungsfehler des Analog-Digital-Wandlers und Nullpunktfehler des Analog-Digital-Wandlers. |
