发明名称 |
肖特基二极管及其制造方法 |
摘要 |
本发明涉及一种肖特基二极管及其制造方法。该肖特基二极管,包括阴极金属层,阴极金属层上的N型硅芯片,该N型硅芯片上具有开口的绝缘层,位于所述开口中及所述绝缘层上的阳极金属层。该肖特基二极管进一步包括该N型硅芯片中位于所述阳极金属层下方的金属硅化物层,以及该N型硅芯片中位于所述金属硅化物层周围的高浓度P型掺杂内环和位于所述高浓度P型内环外侧的高浓度P型掺杂外环;所述阳极金属层由钛铝金属构成。根据本发明制作而得的肖特基二极管,不仅其性能参数得到了改善,并且在不增加工艺步骤的情况下其生产制作的成品率获得显著提高。 |
申请公布号 |
CN103050548B |
申请公布日期 |
2016.07.06 |
申请号 |
CN201210581204.X |
申请日期 |
2012.12.27 |
申请人 |
北京燕东微电子有限公司 |
发明人 |
王剑敏 |
分类号 |
H01L29/872(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L29/47(2006.01)I;H01L21/329(2006.01)I;H01L21/28(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/872(2006.01)I |
代理机构 |
北京正理专利代理有限公司 11257 |
代理人 |
张雪梅 |
主权项 |
一种肖特基二极管,包括阴极金属层;阴极金属层上的N型硅芯片;该N型硅芯片上具有开口的绝缘层;位于所述开口中及所述绝缘层上的阳极金属层;其特征在于,该肖特基二极管进一步包括,该N型硅芯片中位于所述阳极金属层下方的金属硅化物层,以及该N型硅芯片中位于所述金属硅化物层周围的高浓度P型掺杂内环和位于所述高浓度P型内环外侧的高浓度P型掺杂外环,所述开口部分地暴露所述P型掺杂内环的一部分及其内的金属硅化物层。 |
地址 |
100015 北京市朝阳区东直门外西八间房万红西街2号 |