发明名称 大结构水平二维位移自动测量装置及方法
摘要 本发明提供一种大结构水平二维位移自动测量装置及方法,由激光准直发射器、自然光滤波靶标、光斑位置采集设备和安装测量软件与数据库的计算机组成;自然光滤波靶标通过光斑位置采集设备与所述计算机相连;所述激光准直发射器由柔性连接装置和护罩构成自竖直结构;光斑位置采集设备将采集到的光斑颜色、形状和梯度变化传给计算机,并由计算机处理输出测量结果。本发明适于对桥梁、索塔或楼宇等大型结构的变形和移动的检测和监测;可检测及监测任何时刻被测点的振动频率、振动幅度等振动情况;满足对静态和动态位移、变形的测量和计算。能够对长期位移、变形及其变化趋势进行计算和评估;具有测量速度快、抗干扰能力强和稳定性高等特点。
申请公布号 CN101339003A 申请公布日期 2009.01.07
申请号 CN200810070076.6 申请日期 2008.08.01
申请人 重庆交通大学 发明人 蓝章礼;周建庭;杜子学
分类号 G01B11/02(2006.01);G01B11/16(2006.01);G01C15/00(2006.01) 主分类号 G01B11/02(2006.01)
代理机构 重庆博凯知识产权代理有限公司 代理人 张先芸
主权项 1、大结构水平二维位移自动测量装置,其特征在于,由激光准直发射器(2),自然光滤波靶标(4),光斑位置采集设备(5),安装测量软件与数据库的计算机(6)组成;自然光滤波靶标(4)通过光斑位置采集设备(5)与所述计算机(6)相连;所述激光准直发射器(2)为650nm的高精度激光准直发射器,由柔性连接装置(3)和护罩(1)构成自竖直结构;所述自然光滤光靶标(4)为蓝绿色滤光板材;光斑位置采集设备(5)将采集的光斑颜色、形状和梯度变化传给计算机(6),并由计算机(6)处理输出测量结果。
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