发明名称 Verfahren zum Verwenden von Heiß-Träger-Injektion-Degradation als programmierbare Sicherung/programmierbarer Schalter
摘要 Verfahren und Vorrichtung zum Liefern einer nicht flüchtigen Speicherung bei einem programmierbaren Transistor. Das Verfahren umfasst ein Empfangen eines Datenwerts, der in dem programmierbaren Transistor gespeichert werden soll, und ein Programmieren des programmierbaren Transistors, um den empfangenen Datenwert zu speichern. Das Programmieren umfn programmierbaren Transistor. Die ausgewählte Spannung ist ausgewählt, um Träger in eine Gateoxidschicht des programmierbaren Transistors zu injizieren. Die Träger werden in der Gateoxidschicht des programmierbaren Transistors in der Abwesenheit der ausgewählten Spannung beibehalten, wodurch der programmierbare Transistor mit dem empfangenen Datenwert programmiert wird.
申请公布号 DE102008034504(A1) 申请公布日期 2009.01.29
申请号 DE200810034504 申请日期 2008.07.24
申请人 QIMONDA AG 发明人 NINO, LEONEL;ORBAN, RICHARD
分类号 G11C16/04 主分类号 G11C16/04
代理机构 代理人
主权项
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