发明名称 瞬态电压抑制二极管芯片的制作工艺
摘要 本发明公开了瞬态电压抑制二极管芯片的制作工艺,该瞬态电压抑制二极管芯片的制作工艺包括两个生产制程:扩散制程及GPP制程。扩散制程的步骤为:原硅片测试、原硅片清洗、附磷、磷扩、磷晶分、单面吹砂、单吹清洗、涂硼、硼扩、硼晶分、硼面吹砂、硼吹清洗;其中,步骤硼扩包括一次硼扩及二次硼扩;GPP制程的步骤依次为:氧化、一次光刻、沟槽蚀刻、烧光阻、沟槽清洗、形成SIPOS钝化膜、玻璃钝化、二次光刻、表面蚀刻、镀镍金。本发明的瞬态电压抑制二极管芯片的制作工艺,其减少了芯片缺陷,使电压分布更集中,同时降低了反向漏电流。
申请公布号 CN103606521B 申请公布日期 2016.06.08
申请号 CN201310335334.X 申请日期 2013.08.05
申请人 南通康比电子有限公司 发明人 应燕霞;李国良;陆延年;刘海花
分类号 H01L21/329(2006.01)I 主分类号 H01L21/329(2006.01)I
代理机构 北京一格知识产权代理事务所(普通合伙) 11316 代理人 滑春生
主权项 瞬态电压抑制二极管芯片的制作工艺 ,其特征在于,包括两个生产制程:扩散制程及GPP 制程:所述扩散制程的步骤依次为:原硅片测试、原硅片清洗、附磷、磷扩、磷晶分、单面吹砂、单吹清洗、涂硼、硼扩、硼晶分、硼面吹砂、硼吹清洗;其中,步骤硼扩包括两次硼扩过程,分别为一次硼扩及二次硼扩;所述GPP 制程的步骤依次为:氧化、一次光刻、沟槽蚀刻、烧光阻、沟槽清洗、形成SIPOS钝化膜、玻璃钝化 、二次光刻、表面蚀刻、 镀镍金和划片;所述一次硼扩及二次硼扩的过程为:一次硼扩的过程为:扩散炉的初始温度为500℃,以5℃ / 分钟的速率升温至1262℃,恒温10H 后,再以1℃ / 分钟的速率降温至1150℃,恒温1H 后,以1℃ / 分钟的速率降温至500℃后出炉;二次硼扩的过程为:扩散炉的初始温度为500℃,以5℃ / 分钟的速率升温至1262℃,恒温2H 后,再以1℃ / 分钟的速率降温至1150℃,恒温1H 后,以1℃ / 分钟的速率降温至500℃后出炉;所述附磷过程为:将磷纸源附着在硅片其中一面的表面,以备扩散用;从烘箱中取出装有清洗好的硅片的花篮放在操作台上;用镊子取出磷纸放在两片硅片之间,相邻的两片硅片共用一张磷纸,一篮片子磷纸摆放完成后,取下夹有磷纸的硅片将其垂直整齐地放在石英舟上,并用挡片塞紧进低温炉;所述磷扩过程为:将磷杂质扩散入硅片,形成磷结及高浓度N区;低温炉扩散:初始炉温280℃,以1℃ /min 的速率升温至550℃恒温1H,时间到后,将材料转高温炉;高温炉扩散:初始炉温500℃,以5℃ /min 的速率升温至1220℃,恒温2H,以4℃ /min的速率降温至500℃,出炉;所述磷晶分过程为:磷扩完的片子泡于氢氟酸中24H左右,冲水60 分钟,并检查片子是否完全分开后,泡IPA 脱水,烘干,收片;所述单面吹砂过程为:硅片以50±5cm/min 的传动速度速进入真空吹砂室中,将未附磷面朝上,以0.9‑1.3Kg/cm<sup>2</sup>的压力进行单面喷砂即可;所述单吹清洗过程为:首先将装有硅片的花篮置于纯水超声20 分钟,纯水冲洗10 分钟;然后置于氢氟酸中5 分钟,纯水冲洗10 分钟;接着将硅片置于哈摩粉溶液中,用频率为2.8KHZ 的超声波超声清洗20 分钟,纯水冲洗10 分钟;再进行热纯水超声清洗20±1min,纯水冲洗10 分钟;最后用常温IPA 溶液进行两次脱水并进烘箱烘干;所述涂硼过程为:将硼杂质涂敷在硅片未扩散磷的一面表面,以备扩散用;配置好涂硼液,用美术笔头沾取适量涂硼液,然后在旋转的硅片未涂硼一面均匀地涂上一层硼液,涂好的硅片置于电热板烘干,硼面相对,两片一叠,将硅片叠好后垂直放于石英舟上,并用挡片塞紧,进硼扩炉;所述硼面吹砂过程为:硅片以50±5cm/min 的传动速度速进入真空吹砂室中,将硼面朝上,以0.9‑1.0Kg/cm<sup>2</sup> 的压力进行喷砂即可;所述硼吹清洗过程为:首先将装有硅片的花篮置于纯水溢水超声20 分钟,纯水冲洗10 分钟;然后将硅片置于哈摩粉溶液中,用频率为2.8KHZ 的超声波超声清洗20 分钟,纯水冲洗10 分钟;再进行热纯水超声清洗20±1min,纯水冲洗10 分钟;最后用常温IPA 溶液进行两次脱水并进烘箱烘干;所述烧光阻过程为:设定烧结炉温550℃,将沟槽蚀刻完的片子垂直插于石英舟的插槽中,每槽一片,整个石英舟置于烧结炉内1H,即可将光刻胶完全清除;所述沟槽清洗过程为:烧光阻完的片子插于花篮中,花篮置于混酸即硝酸,冰乙酸,氢氟酸的体积比:18:1:1中反应20 秒,冲水10 分钟,然后置于1 号液即纯水:双氧水:氨水=5:2:1中煮5 分钟,冲水10 分钟,再置于2 号液即纯水:双氧水:盐酸=8:2:1中煮5 分钟,冲水10 分钟,最后纯水超声20min,冲水10 分钟,IPA脱水进烘箱烘干;所述形成SIPOS钝化膜过程为:在650℃炉温,0.9 - 1.0 托的气压下,以硅烷为反应剂,氧化二氮为掺杂剂,反应时间:30 分钟;所述玻璃钝化过程为:在芯片沟槽中SIPOS 钝化膜(B6a)的基础上刮涂一层玻璃浆料,并在100℃的烘箱中,烘烤30分钟,然后在830℃的高温炉中烧结1H,形成钝化层(B7a),使芯片达到一定耐压,稳定、可靠地工作;所述二次光刻过程为:片子做过玻璃钝化层的那面涂敷一层厚约10um 的负性光刻胶(B8a),然后在120℃的烘箱中烘烤30min,再在紫外光照下曝光50 秒,最后在显影液与漂洗液中浸泡5min 即显影完成,进120℃烘箱烘烤30min,完成二次光刻。
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