发明名称 自动分析装置
摘要 提供安装有光散射光度计的自动分析装置,在降低外部光线的影响,提高分析精度的同时,安全且使用方便。在本体壳体的内部具有散射光测定部,具有覆盖本体壳体的上表面(410)的可开闭的保护盖(610~630)。在的保护盖(610)上形成有遮蔽外部光线的遮光部。此外,在保护盖上设置有可透视内部的透视部(621,631)。遮光部通过覆盖至少相当于散射光测定部的上方的反应盘的区域,从而减少漏入散射光测定部的外部光线,使散射光测定不受外部光线的影响。保护盖除了分成三部分的结构外,还可以为分成二部分的结构或一片的结构。
申请公布号 CN103842826B 申请公布日期 2016.07.13
申请号 CN201280047628.6 申请日期 2012.07.31
申请人 株式会社日立高新技术 发明人 大沼满;佐藤庸子;山崎创;和久井章人
分类号 G01N35/02(2006.01)I;G01N21/47(2006.01)I;G01N21/49(2006.01)I 主分类号 G01N35/02(2006.01)I
代理机构 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人 张敬强;严星铁
主权项 一种自动分析装置,其特征在于,具备:配置于本体壳体的上表面的样品盘、试剂盘、反应盘以及多个分注机构,所述样品盘保持多个样品,所述试剂盘保持多种试剂,所述反应盘保持多个反应单元,所述多个分注机构具备转动的臂和固定于所述臂上的喷嘴并将所述样品或所述试剂向保持在所述反应盘上的所述反应单元内分注,设置于所述本体壳体的内部,具备向所述反应单元进行光照射的光源和接收通过所述光照射由所述反应单元内的反应液所产生的散射光的光接收器的散射光测定部,以及以覆盖所述本体壳体的上表面的方式配置,设置有遮蔽外部光线的遮光部和可透视内部的透视部的保护盖,所述遮光部,覆盖至少相当于所述散射光测定部的上方的所述反应盘的区域,所述保护盖具备形成所述遮光部的第1保护盖和设置有所述透视部的第2保护盖,在关闭所述第1保护盖和所述第2保护盖的状态下,在所述第1保护盖的一部分之上重叠有所述第2保护盖的一部分,所述第2保护盖能够单独地开闭,所述第1保护盖在打开所述第2保护盖之后能够打开,或者如果不与所述第2保护盖同时打开就无法打开。
地址 日本东京都