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一种嵌入式系统之追踪方法，其使用一堆叠之方式进行检测与追踪，其步骤包括：取出一函式之一程式计数(Program Counter，PC)值与一堆叠区段；依据该堆叠区段而得知该函式之指令(instruction)，进而计算该函式之堆叠大小；依据该函式之堆叠大小检视一堆叠框(stack frame)而取出前一个函式之一递回程式计数值；以及依据该递回程式计数值，计算前一个函式之起始点(entry)。如申请专利范围第1项所述之嵌入式系统之追踪方法，其中更包括一步骤：判断该递回程式计数值符合一门槛值，则依据该递回程式计数值，计算前一个函式之起始点。如申请专利范围第2项所述之嵌入式系统之追踪方法，其中该门槛值为上一层函式所对应之该程式计数值。如申请专利范围第3项所述之嵌入式系统之追踪方法，其中该递回程式计数值未达最上层函式所对应之该程式计数值，则再计算出前一个函式之该递回程式计数值，以达到最上层函式所对应之该程式计数如申请专利范围第2项所述之嵌入式系统之追踪方法，其中可依据该递回程式计数值产生一对应于前一个函式之位址，并判断该对应于前一个函式之位址符合该门槛值，则依据该递回程式计数值，计算前一个函式之起始点。如申请专利范围第1项所述之嵌入式系统之追踪方法，其中更包括一步骤：依据该函式之堆叠大小，计算前一个函式之堆叠点(Stack Point，SP)。如申请专利范围第1项所述之嵌入式系统之追踪方法，其中于依据该堆叠区段而得知该函式之指令，进而计算该函式之堆叠大小之步骤中，系藉由该函式之指令的运算码(operation code，op code)而计算该函式之堆叠大小。如申请专利范围第1项所述之嵌入式系统之追踪方法，系应用于记忆体之追踪。如申请专利范围第1项所述之嵌入式系统之追踪方法，系应用于嵌入式系统发生错误。如申请专利范围第1项所述之嵌入式系统之追踪方法，其中该起始点系为前一个函式之起始位址。 |
