发明名称 基于窗函数设计的滤波器性能检测方法和系统
摘要 一种基于窗函数设计的滤波器性能检测方法和系统,其中方法包括步骤:计算基于窗函数设计的滤波器的频谱函数;确定所述频谱函数的实部和虚部,并根据所述实部和虚部获取滤波器的频谱主瓣宽度;求解频谱函数的旁瓣峰值,获得滤波器的旁瓣峰值;根据所述频谱主瓣宽度和旁瓣峰值确定滤波器的滤波性能。本发明的技术方案,在基于窗函数的滤波器设计中,通过快速计算窗函数的频谱的主瓣宽度和旁瓣峰值,进而实现对滤波器滤波性能的检测,实现对滤波器性能的客观评价,有利于基于窗函数的滤波器的设计与选择,有利于根据不同的场景选择不同的滤波器。
申请公布号 CN103823177B 申请公布日期 2016.09.07
申请号 CN201410058979.8 申请日期 2014.02.20
申请人 广东省电信规划设计院有限公司 发明人 李桂愉;杨超;肖恒辉;陈运动;赖志坚
分类号 G01R31/3181(2006.01)I 主分类号 G01R31/3181(2006.01)I
代理机构 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人 王茹;陶品德
主权项 一种基于窗函数设计的滤波器性能检测方法,其特征在于,包括如下步骤:计算基于窗函数设计的滤波器的频谱函数;确定所述频谱函数的实部和虚部,并根据所述实部和虚部获取滤波器的频谱主瓣宽度;具体包括:计算所述频谱函数的实部和虚部;求解所述实部和虚部的第一个相同零点;根据所述第一个相同零点确定滤波器的频谱主瓣宽度;所述求解所述实部和虚部的第一个相同零点的步骤包括:S201,获取滤波器的阶数M、搜索区间[0,π]、搜索间隔α以及误差系数ε,设置i=2;S202,计算R{W(ω<sub>i</sub>)}和R{W(ω<sub>i+1</sub>)};其中,R{W(ω<sub>i</sub>)}为频谱函数的实部;S203,若满足R{W(ω<sub>i</sub>)}≤ε,则ω<sub>R</sub>=ω<sub>i</sub>,转到步骤S206;否则转步骤S204;S204,若满足R{W(ω<sub>i+1</sub>)}≤ε,则ω<sub>R</sub>=ω<sub>i+1</sub>,转到步骤S206;否则转步骤S205;S205,若满足R{W(ω<sub>i</sub>)}·R{W(ω<sub>i+1</sub>)}<0,则<img file="FDA0001048687820000011.GIF" wi="309" he="126" />转到步骤S206;否则i=i+1,转到步骤S202;S206,计算I{W(ω<sub>R</sub>)},其中I{W(ω<sub>R</sub>)}为频谱函数的虚部;S207,判断是否满足I{W(ω<sub>R</sub>)}≤ε,若是,执行步骤S208,否则,令i=i+1,转到步骤S202;S208,确定实部和虚部的第一个相同零点;求解频谱函数的旁瓣峰值,获得滤波器的旁瓣峰值;根据所述频谱主瓣宽度和旁瓣峰值确定滤波器的滤波性能。
地址 510630 广东省广州市中山大道华景路1号南方通信大厦