| 发明名称 | 偏光膜的检查方法及检查装置 | ||
| 摘要 | 提供一种偏光膜的检查方法及检查装置，是一种对偏光膜以倾斜的角度照射光并观察其反射的光进行检查的方法，使正确地检测存在于偏光膜的层叠界面的气泡缺陷变得容易，是一种对由偏光镜膜(12)、粘合剂层(16)、保护膜(13)所层叠之偏光膜(1)，照射来自光源部(E)的光，并借由检测部(D)检测其反射光而检查偏光膜(1)的气泡缺陷的检查方法，使用由配置于该偏光膜(1)的一方的光源部(E)及检测部(D)，从另一面支持该偏光膜(1)的传送滚轮(2)构成的检查装置。 | ||
| 申请公布号 | CN100338456C | 申请公布日期 | 2007.09.19 |
| 申请号 | CN03123871.8 | 申请日期 | 2003.05.23 |
| 申请人 | 住友化学工业株式会社 | 发明人 | 篠塚淳彦 |
| 分类号 | G01N21/896(2006.01);G01B5/30(2006.01) | 主分类号 | G01N21/896(2006.01) |
| 代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人 | 王学强 |
| 主权项 | 1.一种偏光膜的检查方法，将存在于偏光薄膜内的缺陷根据反射光进行检测，其特征是在于使用一个检查装置，该检查装置包括：一个检测部，具有配置于该偏光膜的一面的光源部及检测器；以及一个传送滚轮，从偏光膜的另一面支持该偏光膜，从该光源部向偏光膜照射光，并借由该检测部接收其反射光而检测缺陷。 | ||
| 地址 | 日本大阪市 | ||