ANALOG IC HAVING TEST ARRANGEMENT AND TEST METHOD FOR SUCH AN IC,申请号EP20060809664-传众专利搜索

发明名称	ANALOG IC HAVING TEST ARRANGEMENT AND TEST METHOD FOR SUCH AN IC
摘要
申请公布号	EP1943534(A2)	申请公布日期	2008.07.16
申请号	EP20060809664	申请日期	2006.10.20
申请人	NXP B.V.	发明人	ZJAJO, AMIR;BERGVELD, HENDRIK, J.;SCHUTTERT, RODGER, F.;PINEDA DE GYVEZ, JOSE DE JESUS
分类号	G01R31/3185;G01R31/317	主分类号	G01R31/3185
代理机构		代理人
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