发明名称 | 半导体压力传感器及其制造方法 | ||
摘要 | 以SiO<SUB>2</SUB>层(2)为刻蚀阻挡层,一直到SiO<SUB>2</SUB>层(2)为止,刻蚀对应于n型单晶Si层(1)的压力敏感区域的部分。用刻蚀法除去已露了出来的SiO<SUB>2</SUB>层(2)。刻蚀规定的量的n型单晶Si层(3)压力敏感区域,以形成膜片(4)。借助于此,从膜片(4)和膜片边缘部分(6)上除去SiO<SUB>2</SUB>层(2)。 | ||
申请公布号 | CN1292868A | 申请公布日期 | 2001.04.25 |
申请号 | CN99803896.2 | 申请日期 | 1999.12.02 |
申请人 | 株式会社山武 | 发明人 | 五所尾康博;东条博史;米田雅之;吹浦健 |
分类号 | G01L9/04;H01L29/84 | 主分类号 | G01L9/04 |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 王永刚 |
主权项 | 1.一种半导体压力传感器,其特征是具备:构成基座的第1半导体层;在上述第1半导体层上边形成的绝缘层;在上述绝缘层上边形成、具有构成压力敏感区域的膜片部分的第2半导体层;在上述压力敏感区域上贯通上述第1半导体层和绝缘层形成、具有达到上述第2半导体层的规定深度的凹部。 | ||
地址 | 日本东京都 |