发明名称 Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung einer optischen, kapazitiven, induktiven Übertragungsstrecke
摘要 Die Erfindung betrifft die Variante eines Halios-Messverfahrens und eine zugehörige Vorrichtung Verfahren zur Vermessung der Eigenschaften einer elektromagnetischen Übertragungsstrecke und/oder eines Objekts (O) innerhalb dieser. Im Gegensatz zum Stand der Technik senden der Kompensationssender (K) und der Sender (H) permanent und um 180° phasenverschoben zueinander mit nicht geregelter, konstanter Modulationsamplitude in jeweils eine zugehörige Übertragungsstrecke (I1, I2 und I3, I4) hinein. In einer oder mehreren der Übertragungstrecken (I1, I2, I3, I4) können sich ein oder mehrere Objekte (O) befinden. Der Halios-Regler (CT) erzeugt nun ein PWM- und/oder PDM-moduliertes Regelsignal (S4), das den Messwert für die Änderung der elektromagnetischen Strahlung beim Durchgang durch eine oder mehrere der Übertragungsstrecken repräsentiert. Das Sendevorsignal (S5v), das dem Sendesignal (S5) des Senders (H) entspricht, wird nun in Abhängigkeit vom logischen Wert des Regelsignal (S4) mit positivem bzw. negativem Vorzeichen zur Demodulation in einem ersten Multiplizierer (M1) benutzt. Es folgt die übliche Skalar-Produktbildung durch Filterung bzw. Integration und Schließung des Regelkreises.
申请公布号 DE102015006174(B3) 申请公布日期 2016.08.11
申请号 DE20151006174 申请日期 2015.05.08
申请人 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft 发明人 Dittrich, Stephan
分类号 G01S17/32;G01B11/14;G01S7/40;G01S7/497;G01S13/32;G01V3/00;G01V8/00 主分类号 G01S17/32
代理机构 代理人
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