发明名称 嵌入式系统的可恢复性测试方法
摘要 本发明涉及一种嵌入式系统的可恢复性测试方法,包括步骤:步骤一,嵌入式系统运行后,启动嵌入式系统的看门狗定时器,向嵌入式系统的当前运行任务随机注入一个测试文件;步骤二,嵌入式系统运行测试文件;以及步骤三,判断嵌入式系统运行测试文件后是否引起嵌入式系统的复位,若引起系统复位,则表示当前测试点出错时是可恢复的,否则表示当前测试点存在不可恢复的错误。本发明的嵌入式系统的可恢复性测试方法能够在嵌入式系统正常运行时对其出错恢复机制进行测试,提高了测试的有效性。
申请公布号 CN105718326A 申请公布日期 2016.06.29
申请号 CN201610054582.0 申请日期 2016.01.27
申请人 惠州市德赛西威汽车电子股份有限公司 发明人 方加强;张裁会;戴春辉;李南山
分类号 G06F11/07(2006.01)I 主分类号 G06F11/07(2006.01)I
代理机构 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 代理人 陈卫;禹小明
主权项  一种嵌入式系统的可恢复性测试方法,其特征在于,包括步骤:步骤一,嵌入式系统运行后,启动嵌入式系统的看门狗定时器,向所述嵌入式系统的当前运行任务随机注入一个测试文件;步骤二,所述嵌入式系统运行所述测试文件;以及步骤三,判断所述嵌入式系统运行所述测试文件后是否引起所述嵌入式系统的复位,若引起系统复位,则表示当前测试点出错时是可恢复的,否则表示当前测试点存在不可恢复的错误。
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