发明名称 晶片保护装置
摘要 一种晶片保护装置,用于当一晶片的一第一表面以蚀刻液进行蚀刻时,保护该晶片的一第二表面的一特定区域不受该蚀刻液所蚀刻,该晶片保护装置包括:一本体,用以包覆该晶片的特定区域,且阻绝该特定区域与该蚀刻液的接触,而在该本体与该特定区域之间产生一隔离空间;以及一压力调节组件,设置于该本体,且与该隔离空间相通连,用以调节该隔离空间的压力,其中该压力调节组件包括:一导管,连通于该蚀刻液,当该隔离空间的压力高于一特定范围时,该隔离空间的气体经由该导管排入该蚀刻液中,而当该隔离空间的压力低于一特定范围时,该导管吸入该蚀刻液,藉此,以调节该隔离空间内的压力。
申请公布号 CN1641840A 申请公布日期 2005.07.20
申请号 CN200510004464.0 申请日期 2002.01.23
申请人 明基电通股份有限公司 发明人 胡宏盛;陈苇霖
分类号 H01L21/306;B81C1/00;C23F1/08 主分类号 H01L21/306
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 陶凤波;侯宇
主权项 1.一种晶片保护装置,用于当一晶片的一第一表面以蚀刻液进行蚀刻时,保护该晶片的一第二表面的一特定区域不受该蚀刻液所蚀刻,该晶片保护装置包括:一本体,用以包覆该晶片的特定区域,且阻绝该特定区域与该蚀刻液的接触,而在该本体与该特定区域之间产生一隔离空间;以及一压力调节组件,设置于该本体,且与该隔离空间相通连,用以调节该隔离空间的压力,其中该压力调节组件包括:一导管,连通于该蚀刻液,当该隔离空间的压力高于一特定范围时,该隔离空间的气体经由该导管排入该蚀刻液中,而当该隔离空间的压力低于一特定范围时,该导管吸入该蚀刻液,藉此,以调节该隔离空间内的压力。
地址 台湾省桃园县