发明名称 |
晶片保护装置 |
摘要 |
一种晶片保护装置,用于当一晶片的一第一表面以蚀刻液进行蚀刻时,保护该晶片的一第二表面的一特定区域不受该蚀刻液所蚀刻,该晶片保护装置包括:一本体,用以包覆该晶片的特定区域,且阻绝该特定区域与该蚀刻液的接触,而在该本体与该特定区域之间产生一隔离空间;以及一压力调节组件,设置于该本体,且与该隔离空间相通连,用以调节该隔离空间的压力,其中该压力调节组件包括:一导管,连通于该蚀刻液,当该隔离空间的压力高于一特定范围时,该隔离空间的气体经由该导管排入该蚀刻液中,而当该隔离空间的压力低于一特定范围时,该导管吸入该蚀刻液,藉此,以调节该隔离空间内的压力。 |
申请公布号 |
CN1641840A |
申请公布日期 |
2005.07.20 |
申请号 |
CN200510004464.0 |
申请日期 |
2002.01.23 |
申请人 |
明基电通股份有限公司 |
发明人 |
胡宏盛;陈苇霖 |
分类号 |
H01L21/306;B81C1/00;C23F1/08 |
主分类号 |
H01L21/306 |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 |
代理人 |
陶凤波;侯宇 |
主权项 |
1.一种晶片保护装置,用于当一晶片的一第一表面以蚀刻液进行蚀刻时,保护该晶片的一第二表面的一特定区域不受该蚀刻液所蚀刻,该晶片保护装置包括:一本体,用以包覆该晶片的特定区域,且阻绝该特定区域与该蚀刻液的接触,而在该本体与该特定区域之间产生一隔离空间;以及一压力调节组件,设置于该本体,且与该隔离空间相通连,用以调节该隔离空间的压力,其中该压力调节组件包括:一导管,连通于该蚀刻液,当该隔离空间的压力高于一特定范围时,该隔离空间的气体经由该导管排入该蚀刻液中,而当该隔离空间的压力低于一特定范围时,该导管吸入该蚀刻液,藉此,以调节该隔离空间内的压力。 |
地址 |
台湾省桃园县 |