发明名称 用以研磨载具膜的砂纸
摘要 本发明公开了一种砂纸,用以研磨一载具膜,其中载具膜用于在化学机械研磨工艺中承载半导体晶片。此砂纸包含:一基底、多个研磨区与一中心保留区。其中,中心保留区位于基底上,且为平坦表面,而研磨区放射状地位于基底上。每一研磨区均包含一内保留区、一外保留区与一粗糙表面区,并通过内保留区、外保留区与粗糙表面区以调整载具膜的表面形状。
申请公布号 CN1880020A 申请公布日期 2006.12.20
申请号 CN200510078930.X 申请日期 2005.06.17
申请人 茂德科技股份有限公司 发明人 连建平;蔡青峰;张冠夫
分类号 B24D11/04(2006.01);B24B37/04(2006.01);H01L21/304(2006.01) 主分类号 B24D11/04(2006.01)
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 陶凤波;侯宇
主权项 1.一种砂纸,用以研磨一载具膜,且该载具膜在化学机械研磨工艺中承载半导体晶片,该砂纸至少包含:一基底,具有一圆形轨迹;一中心保留区,位于该基底的中心;以及多个研磨区,该些研磨区放射状地配置于该基底上,且与该中心保留区相邻接;其中,每一该些研磨区包含:一内保留区,位于该基底的该圆形轨迹内侧,并邻接于该中心保留区;一外保留区,位于该基底的该圆形轨迹外侧;以及一粗糙表面区,位于该基底上,邻接于该内保留区与该外保留区,用以研磨该载具膜。
地址 台湾省新竹科学工业园
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