发明名称 |
用以研磨载具膜的砂纸 |
摘要 |
本发明公开了一种砂纸,用以研磨一载具膜,其中载具膜用于在化学机械研磨工艺中承载半导体晶片。此砂纸包含:一基底、多个研磨区与一中心保留区。其中,中心保留区位于基底上,且为平坦表面,而研磨区放射状地位于基底上。每一研磨区均包含一内保留区、一外保留区与一粗糙表面区,并通过内保留区、外保留区与粗糙表面区以调整载具膜的表面形状。 |
申请公布号 |
CN1880020A |
申请公布日期 |
2006.12.20 |
申请号 |
CN200510078930.X |
申请日期 |
2005.06.17 |
申请人 |
茂德科技股份有限公司 |
发明人 |
连建平;蔡青峰;张冠夫 |
分类号 |
B24D11/04(2006.01);B24B37/04(2006.01);H01L21/304(2006.01) |
主分类号 |
B24D11/04(2006.01) |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 |
代理人 |
陶凤波;侯宇 |
主权项 |
1.一种砂纸,用以研磨一载具膜,且该载具膜在化学机械研磨工艺中承载半导体晶片,该砂纸至少包含:一基底,具有一圆形轨迹;一中心保留区,位于该基底的中心;以及多个研磨区,该些研磨区放射状地配置于该基底上,且与该中心保留区相邻接;其中,每一该些研磨区包含:一内保留区,位于该基底的该圆形轨迹内侧,并邻接于该中心保留区;一外保留区,位于该基底的该圆形轨迹外侧;以及一粗糙表面区,位于该基底上,邻接于该内保留区与该外保留区,用以研磨该载具膜。 |
地址 |
台湾省新竹科学工业园 |